X熒光光譜儀由激發源和探測系統構成。X射線管產生入射X射線，激發被測樣品，產生X熒光，探測器對X熒光進行檢測，其分析速度快，精密度高。關于X熒光光譜儀的常見分析對象你了解嗎？

 

X熒光光譜分析分析范圍很廣，可從Be-U,而且對分析試樣的物理狀態不作要求，像固體、粉末、晶體、非晶體都可作為試驗對象。也不受元素的化學狀態的影響。重要的是它屬于物理過程中的非破損性分析，是一種試樣不發生化學變化的無損分析方法。它還可以對均勻試樣進行表面的分析。

 

X熒光光譜分析被應用于很多領域，比如地質、冶金、礦山、電子機械、石油、化工、航空、航天材料、農業、生態環境、建筑材料、商檢等領域的材料化學成分分析，它的直接分析對象有以下幾種:

1、固體

A.塊狀樣品(規則不規則)，比如：鋼鐵，有色行業純金屬或多元合金、金飾品等；

B.線狀樣品,包括線材,可以直接測量；

C.鉆削,不規則樣品可以直接測；

2、粉末

礦物陶瓷水泥(生料、熟料、原材料成品等；泥土、粉末、冶金、鐵合金或少量稀松粉末,可以直接測量，亦可以壓片測量或制成玻璃熔珠。

3、稀土